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供應(yīng):TR-Scan-P精密型非接觸微觀形貌(粗糙度)測(cè)量?jī)x
  • 產(chǎn)品價(jià)格:¥ 100 元/臺(tái)
  • 供 貨 量:100臺(tái)
  • 所 在 地:中國(guó) 廣東 深圳
  • 聯(lián) 系 人:曾輝 先生   添加為商業(yè)伙伴
  • 有 效 期:2017年04月18日-2017年10月15日
詳細(xì)信息

 

TR-Scan-P精密型非接觸微觀形貌(粗糙度)測(cè)量?jī)x

瑞士TRIMOS公司生產(chǎn)的TR-Scan-P系列精密型非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測(cè)量?jī)x,系統(tǒng)采用TRIMOS專利技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測(cè)量技術(shù)(DHM),廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測(cè)量技術(shù)相比,測(cè)量速度快,對(duì)震動(dòng)不敏感,真正的實(shí)現(xiàn)三維形貌納米級(jí)測(cè)量。模塊化的設(shè)計(jì)理念,可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測(cè)量系統(tǒng),傳感器直接更換,方便快捷,極大的滿足了不同的應(yīng)用范圍。即可用于計(jì)量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室,也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域:汽車(chē)、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機(jī)系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)。

主要特點(diǎn):
◆ 非接觸式測(cè)量原理,無(wú)損化檢測(cè)粗糙度,微觀形貌
◆ 獨(dú)有的數(shù)字全息三維顯微技術(shù),真正實(shí)現(xiàn)3D微觀形貌測(cè)量
◆ 創(chuàng)新的成像原理,從原理上保證了對(duì)外界振動(dòng)不敏感,Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動(dòng)定位,測(cè)量速度快 
◆ 模塊化的設(shè)計(jì)概念,多種光學(xué)光路原理,直接更換傳感器,不需要調(diào)整,方便快捷
◆ 可非標(biāo)定制相應(yīng)的測(cè)量頭,滿足不同客戶的特殊工件測(cè)量要求
◆ 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精密表面測(cè)量,也可選用色譜共焦技術(shù)實(shí)現(xiàn)微觀輪廓測(cè)量或選用接觸式探針實(shí) 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測(cè)量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念,測(cè)量過(guò)程全 自動(dòng),操作簡(jiǎn)單
◆ 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件,功能強(qiáng)大,即可實(shí)現(xiàn)2D輪廓測(cè)量,也可進(jìn)行3D形貌分析
◆ 可進(jìn)行編程批量檢測(cè)并自動(dòng)生成分析報(bào)告
◆ 完全兼容2D標(biāo)準(zhǔn),并已內(nèi)置即將制定的3D標(biāo)準(zhǔn)

軟件特點(diǎn):
TRIMOS NanoWare軟件,擁有國(guó)際權(quán)威的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)程序來(lái)實(shí)時(shí)更新國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量符合以下標(biāo)準(zhǔn):ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等),法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)NF,制造標(biāo)準(zhǔn)CNOMO,ASME (B46.1) 和DIN標(biāo)準(zhǔn);三維表面特征數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178系列同樣有效。

TRIMOS® NanoWare LT特點(diǎn):
用于二維輪廓粗糙度測(cè)量分析的基本模塊。操作簡(jiǎn)便,包含用于表面檢查,分析形貌,粗糙度和波紋度測(cè)量的重要功能。
◆ 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra、Rq、Rt、線性材料曲率
◆ 過(guò)濾方式、水平、放大
◆ 所有測(cè)量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT:  
◆ 3軸測(cè)量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及       符合ISO 25178表面分析   
◆ 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)   
◆ 表面圖形仿真   
◆ 距離, 高度及角度測(cè)量   
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器   
◆ 最終結(jié)果管理   
◆ 測(cè)量點(diǎn)管理/再采集   
◆ 輪廓提取, 體積測(cè)量 
TRIMOS® NanoWare PRO:  
2D及3D表面特征評(píng)估最完整版本。此模塊綜合了表面測(cè)量領(lǐng)域15年以來(lái)的經(jīng)驗(yàn)。
◆ 市場(chǎng)上最高性能的軟件   
◆ 表面圖層研究   
◆ 3D形貌鑒定   
◆ 表面及輪廓統(tǒng)計(jì)分析及研究 


可選測(cè)頭:

DHM激光全息測(cè)頭:
單色性的激光作為光源,精度更高,全息技術(shù)一次采集被測(cè)面所有信息,速度更快
◆ 光滑研磨或拋光表面
◆ 鋼、鋁、鈦、硅、金、陶瓷、玻璃
◆ 測(cè)量速度快、精度高
◆ 二維/三維測(cè)量

CCM色譜共焦測(cè)頭:
通過(guò)白光光譜對(duì)被測(cè)面聚焦分析,垂直測(cè)量范圍大,適合所有反射或非反射材料
◆ 機(jī)加工表面和粗糙表面,微觀結(jié)構(gòu)
◆ 金屬,塑料,研磨材料、紙、紡織品、化妝品
◆ 垂直方向測(cè)量范圍大
◆ 滿足所有材料二維/三維測(cè)量

DIA P1接觸式測(cè)頭:
◆ 接觸式測(cè)量方式符合二維傳統(tǒng)粗糙度測(cè)量
◆ 可用于內(nèi)尺寸測(cè)量

 

應(yīng)用實(shí)例:

 
鋼制材料-軸類表面(DHM CCM)

鈦合金-高精密拋光表面紋理分析(DHM ) 
 
玻璃-微觀形貌測(cè)量(DHM )
 
 硅晶體 - 微結(jié)構(gòu)分析(DHM )
 
鋁制品 - 表面粗糙度測(cè)量(DHM )
 
陶瓷材料 - 劃痕深度測(cè)量(CCM-P1)
 
鈷鉻拋光表面分析(DHM CCM)
 
宏觀表面紋理分析(CCM P1)

注:聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)是在“傲立機(jī)床網(wǎng)”上看到的,謝謝!

:TR-Scan-P精密型非接觸微觀形貌(粗糙度)測(cè)量?jī)x
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