一、瑞士品牌德國制造COMET光管

1、COMET擁有50年歷史，是世界上最著名的光管品牌（如圖一）

 

 

                            圖一

2、采用透射的方式（如圖二）    

   1). 離被測(cè)物體近，

   2 ).電壓比反射式低20%，

   3) .受干擾變小

     

                                     圖二

     

3、銀靶材

    銀靶材相對(duì)傳統(tǒng)鎢靶材而言激發(fā)出來的能量接近Hg\Pb\Cd，激發(fā)效率大大的提高（國  內(nèi)同行采用鎢靶材）。

4、輸出穩(wěn)定度高

    電壓的輸出穩(wěn)定度<0.03% RSD ,提高檢測(cè)重復(fù)性。（正常標(biāo)準(zhǔn)為<0.05%RSD，而國產(chǎn)品牌的穩(wěn)定度僅為：0.1%，）

5、使用壽命長(zhǎng)

   可連續(xù)使用2000~5000小時(shí)

二、美國外太空探索使用的X光探測(cè)器

 

1、美國15年的研究成果，廣泛應(yīng)用在美國外太空探索使用的探測(cè)器（見圖三）

2、分辨率高達(dá)165ev,使得波峰變瘦，分辨容易（見圖三）

3、穩(wěn)定性高，信噪比的控制

     

                                        圖三

三、自動(dòng)選擇濾波裝置

1、經(jīng)過我司研究人員反復(fù)研究實(shí)驗(yàn)，最后確定了四種濾波片，并自動(dòng)切換的濾光片

2、所有的濾波片采用特殊鋼材質(zhì)作為外殼

   國內(nèi)同行采用銅作為濾波片外殼，經(jīng)過研究表明銅易受到干擾，對(duì)測(cè)量的重復(fù)性影響很 

   大。而我司采用的經(jīng)過特殊處理的合金鋼極大的減少了干擾。

 

    

四、FP基本參數(shù)法

1、FP是英文Fundamental Parameter Method的簡(jiǎn)稱，中文就是“基本參數(shù)法”，又稱“歸一法”。這是根據(jù)X射線發(fā)射理論計(jì)算X射線強(qiáng)度的方法。這個(gè)強(qiáng)度叫做“理論強(qiáng)度”，是通過與測(cè)定的強(qiáng)度（即測(cè)定強(qiáng)度）比較，從而定量分析樣品的膜厚和元素的含量的方法。

2、我司美國研究部門，充分利用美國幾十年X射線方面的研究成果，將其應(yīng)用到RoHS 分析上面來

3、可實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬的無標(biāo)樣測(cè)試.

五、高精度內(nèi)置波峰分離軟件

1、自動(dòng)過濾背景

    X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動(dòng)過濾背景對(duì)分析結(jié)果的干擾，從而能確保對(duì)任何塑料樣品的進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。

   

2、自動(dòng)剝離重疊峰

    當(dāng)某些元素的電子由高等級(jí)向低等級(jí)越遷時(shí)釋放的能量相近，會(huì)使此時(shí)譜圖的波峰重疊在一起，由此產(chǎn)生了重疊峰。我司自行開發(fā)的軟件自動(dòng)剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。

3、自動(dòng)補(bǔ)償逃逸峰

    逃逸峰：由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測(cè)器，因此當(dāng)X射線熒光在通過探測(cè)器的時(shí)候，如果某種元素的含量較高(能量也會(huì)相應(yīng)的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時(shí)，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方會(huì)產(chǎn)生一個(gè)峰，此峰即為逃逸峰。

4、自動(dòng)追蹤譜圖漂移

    在電壓不穩(wěn)的情況下，可對(duì)掃描譜圖的漂移進(jìn)行自動(dòng)追蹤補(bǔ)償。

 

六、無需繁瑣的初始化

    由于Sinpin探測(cè)器有極高的穩(wěn)定性,加上強(qiáng)大的自動(dòng)補(bǔ)償圖譜功能,設(shè)備在設(shè)置無改變的情況下,幾乎不必每次開機(jī)做初始化

七、自動(dòng)檢測(cè)儀器狀態(tài)

    軟件具備自動(dòng)監(jiān)測(cè)儀器狀態(tài)的功能,自動(dòng)檢測(cè)電流,電壓等功能

八、無鉛錫焊專用分析程序

    有效地降低了高含量的Ag,Cu,Su對(duì)分析的干擾,提高了分析的準(zhǔn)確度,特別對(duì)銅含量的分析有極佳的可靠性.

九、無標(biāo)量定樣

通過FP算法,無需標(biāo)準(zhǔn)樣品,仍可進(jìn)行特殊合金材料的檢測(cè),FP算法是根據(jù)理論計(jì)算而計(jì)算出的X射線強(qiáng)度的定量方法,因此能在無標(biāo)準(zhǔn)樣品的前提下,對(duì)未知樣品進(jìn)行定量分析。

主要技術(shù)指標(biāo)：

分析原理		能量色散X射線熒光分析法
分析元素		Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
		Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限		Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀		最大460×380mm(高150mm)
樣品		塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛		大氣
X射線管	靶材	Rh
	管電壓	最大50KV
	管電流	最大1mA
X射線照射徑		1/3/5mm
防護(hù)		＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）
檢測(cè)器		硅SIPIN探測(cè)器
光學(xué)圖像觀察		倍率15倍
軟件		定性分析：自動(dòng)定性 （自動(dòng)去背景/自動(dòng)剝離重疊峰/自動(dòng)補(bǔ)償逃逸峰/自動(dòng)補(bǔ)償譜圖漂移）
		照射徑：1/3/5mm
		定量分析：基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點(diǎn)校正
計(jì)算機(jī)	CPU	PentiumIV1.8GHz以上
	內(nèi)存	256MB以上
	硬盤	20GB以上
	OS	WindowXP
監(jiān)視器		17寸LCD
周圍溫度		10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動(dòng)作溫度）
周圍濕度		5～31。C時(shí)溫度范圍：最大相對(duì)濕度80%以下 31～40。C時(shí)溫度范圍：相對(duì)濕度50%以下
電源		AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力		1.3KVA以下（含計(jì)算機(jī)、LCD、打印機(jī)）
設(shè)備重量		約65kg(不含桌子、計(jì)算機(jī)）
外形寸法		600（W）×545（D）×435（H）mm