國產(chǎn)平面干涉儀150MM

G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設(shè)計，適用于計量機構(gòu)檢定和校準光學(xué)平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標準鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)數(shù)字化測量。G150S為G150M:的簡化版本，適合光學(xué)車間的現(xiàn)場檢驗。主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的測試；準直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測試。儀器規(guī)格參數(shù)表產(chǎn)品型號G150MG150S有效通光口徑152.4mm（6英寸）測量方式菲索干涉原理光源氦氖激光（632.8nm）半導(dǎo)體激光器（635nm）連續(xù)變焦倍數(shù)1-6.7倍固定倍率光路切換對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換顯示方式計算機或獨立監(jiān)視器實時顯示監(jiān)視器實時顯示平面透過標準鏡PV：優(yōu)于λ/20，可定制更高精度標準鏡平面反射標準鏡標配選配衰減過濾片標配選配。 詳細介紹>>