G200M激光平面干涉儀

詳細介紹G200M型平面干涉儀:為中國首款標(biāo)準鏡有效口徑達到200mm的平面干涉儀，改善提高了大口徑光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件測試精度，彌補了國內(nèi)使用有效口徑150mm的干涉儀測試大尺寸光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件，不能全口徑測試的不足。主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的測試；準直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測試。儀器規(guī)格參數(shù)表產(chǎn)品型號G200M類型菲索干涉原理測試口徑◇200mm標(biāo)準鏡材料熔石英（康寧7980）光源He-Ne激光（632.8nm）光路切換對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換顯示方式計算機或獨立監(jiān)視器實時顯示平面透過標(biāo)準鏡PV：優(yōu)于λ/20，可定制更高精度標(biāo)準鏡平面反射標(biāo)準鏡標(biāo)配衰減過濾片標(biāo)配儀器尺寸(長X寬X高)500X500X1100mm儀器重量100KG電源AC100-240V50/60Hz（附注：更大口徑平面干涉儀可依據(jù)客戶需求定制）儀器特點◇精度高：標(biāo)準鏡精度高，且材料經(jīng)過精密退火處理，穩(wěn)定可靠；◇結(jié)構(gòu)靈活：立式和臥式兩種結(jié)。 詳細介紹>>