英國(guó)牛津面銅測(cè)厚儀CMI165​;
更新時(shí)間:2017-10-26 瀏覽數(shù):3131
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英國(guó)牛津面銅測(cè)厚儀CMI165主要特點(diǎn):-可測(cè)試高溫的PCB銅箔-顯示單位可為mils,μm或oz-可用于銅箔的來料檢驗(yàn)-可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試-可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試-配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭-可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試手持式CMI165表面銅厚測(cè)量?jī)x性能:利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測(cè)量,符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能,包括數(shù)據(jù)記錄、平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。
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