CAMECA阿美特克高分辨二次離子質(zhì)譜儀
更新時間:2014-04-01 瀏覽數(shù):2342
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- 圖片標簽:CAMECA,阿美特克,二次離子質(zhì)譜儀
NanoSIMS50L專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針。在CAMECA各系列的二次離子質(zhì)譜(SIMS)中,NanoSIMS50L因擁有很高的橫向分辨率而與眾不同。儀器設計獨特:一次離子槍與二次離子提取腔體采用光學共軸設計;而磁質(zhì)譜部分也從一開始就采用多接受模式。
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